全自动扫描四探针
全自动扫描四探针
全自动扫描四探针
全自动扫描四探针
全自动扫描四探针
全自动扫描四探针
全自动扫描四探针
全自动扫描四探针

全自动扫描四探针

主要特性

全自动多点扫描

镶嵌红宝石轴套的探针头,保证测量的机械精度、稳定性和寿命

1 μΩ~1MΩ的超宽测量范围可涵盖绝大部分应用场景,广泛适用于光伏、半导体、合金、陶瓷等诸多领域

产品概述产品特性产品规格数据图像
产品概述
RM150A是专为科学研究设计的扫描四探针电阻测试仪,可以对最大150mm样品(或6英寸晶圆)进行快速、自动的扫描,获得样品不同位置的方阻/电阻率分布信息。探针头借鉴了机械钟表机芯制造工艺,使用红宝石轴承引导碳化钨探针,确保高机械精度和长使用寿命。动态测试重复性(接近真实场景)可达0.2%,为行业领先水平。1 μΩ~1 MΩ的超宽测量范围可涵盖绝大部分应用场景,可广泛适用于光伏、半导体、合金、陶瓷等诸多领域。
产品应用

半导体及太阳能电池(单晶硅、多晶硅、钙钛矿)

液晶面板(ITO/AZO)

功能材料(热电材料、碳纳米管、石墨烯、银纳米线、导电纤维布)

半导体工艺(金属层/离子注入/扩散层)、非晶合金

相关资讯
太阳光模拟器原理|模拟器标准
太阳光是生活中最常见的光源,也是最清洁的能源
四探针应用|电子材料和电子器件薄膜
四探针测量仪是一种常用的用于测量电子材料(如硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)等半导体材料的电阻率
四探针原理|薄膜电阻方程推导
通过测量内探针之间的电压变化和外探针之间的施加电流可以得到样品的薄层电阻
四探针原理|薄层电阻校正因子
探针之间的可能电流路径会受到样品边缘的接近度限制,从而导致薄层电阻估计过高

联系我们

在线工程师
扫描二维码立马咨询

我们的电话
17652520563